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TOS7210S 絕緣電阻測試儀
主要特點：
- 可在 50Vdc-2000Vdc（分辨率 1V）范圍內(nèi)實施設(shè)定
- 可通過面板側(cè)的開關(guān)即時切換施加電壓極性
- 輸出端子與接地電位間為浮地狀態(tài)。只測量通過測量點間的電流
- 可對電流測量值或電阻測量值進行切換顯示
PID 絕緣測試儀（TOS7210S）是為準(zhǔn)確有效地對太陽能電池模塊的 PID(Potential Induced Degradation) 現(xiàn)象進行評估， 以絕緣電阻測試儀（TOS7200）為基礎(chǔ)設(shè)計而成的測試儀。附有極性切換功能，輸出電壓可達 2000V, 同時裝載了 nA 級分辨率的電流表，因此不只可以進行 PID 評估，還可以用于要求進行高敏感度測試的絕緣體評估測試。標(biāo)準(zhǔn)安裝了可從外部調(diào)用的面板存儲器及 RS232C 接口，因此也可以靈活對應(yīng)自動化系統(tǒng)。
PID 現(xiàn)象是指太陽能電池與邊框長期被施以高電壓，電池發(fā)電量顯著降低的現(xiàn)象。目前認(rèn)為所施加的電壓越高并且越是在高溫、高濕的 環(huán)境下劣化現(xiàn)象越嚴(yán)重。如晶體硅太陽能電池模塊的輸出電壓即使只有數(shù)十 V，一旦直接連接的片數(shù)增加，串內(nèi)的電位差將變得非常 高。一方面，PCS（Power Conditioning System）作為交流電源與系統(tǒng)相連 , 使接地形態(tài)發(fā)生變化。輸入端采用浮接（一側(cè)電極不能接地 線）的無變壓器方式近年也有所增加。這種情況下電池和地線間將發(fā)生高電位差。晶體硅太陽能電池模塊中，相對于邊框（接地線）負(fù)極電位高的電池容易發(fā)生 PID 現(xiàn)象。（請參照圖 1） 目前，日本國內(nèi)以 Max 600V、歐洲以 max 1000V 的系統(tǒng)電壓運行太陽能電池模塊，但是目前出現(xiàn)了提高 Max 系統(tǒng)電壓以削減企業(yè)用大規(guī)模太陽能發(fā)電系統(tǒng)的串?dāng)?shù)、PCS 總數(shù)，提高發(fā)電效率的趨勢。
圖1
圖 2 模擬了晶體硅太陽能電池模塊處于高電位差的狀況。 邊框為正極電位、模塊電路處于負(fù)極高電位的狀況。晶體硅太陽能電池模塊的PID現(xiàn)象被認(rèn)為是白板強化玻璃內(nèi)的鈉離子向單元側(cè)移動，從而引起劣化。（薄膜類太陽能電池模塊也被確認(rèn)出現(xiàn) PID 現(xiàn)象，但是發(fā)生劣化的機制與晶體硅太陽能電池模塊不同。）現(xiàn)在，各種研究機構(gòu)正在通過研究、試驗查找 PID 現(xiàn)象的原因。
圖2
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