概述
6430B和6440B精密元件分析儀可對任何無源元件進(jìn)行全面、準(zhǔn)確的高分辨率測試。特別是,對于電容器制造商而言,這些儀器提供了快速自動生產(chǎn)測試和完整設(shè)計特性的能力。用戶包括無源元件、制造測試、設(shè)計和測試材料的設(shè)計者,以及評估元件特性的電路設(shè)計者。
可以自動計算任何部件及其在該頻率下的等效串聯(lián)或并聯(lián)電路的諧振頻率。這兩種儀器都設(shè)計用于組件的高性能測試,基本精度為0.02%,價格低廉。6430B是覆蓋500 kHz的入門級儀器,而功能齊全的6440B覆蓋3 MHz。
為了在指定頻率范圍內(nèi)高速評估部件性能,使用多頻率模式。在此模式下,操作員決定要測量的參數(shù)和頻率。6430B和6440B完成了其余工作,在大型LCD顯示屏上創(chuàng)建了一個易于閱讀的表格。每個測試都可以有一個簡單的通過/失敗顯示。
電容器的快速自動多頻生產(chǎn)測試
6430B和6440B可在生產(chǎn)環(huán)境中快速自動測試電容器。用戶可以從任何儀器范圍內(nèi)選擇測量值,并對每個組件執(zhí)行多達(dá)八個不同的測試??梢詾槊總€測試選擇公差箱。完成所有測試后,儀器選擇整個料倉。測量結(jié)果可以通過GPIB或打印機(jī)輸出。測試序列由外部輸入、GPIB或前面板觸發(fā)。測試序列完成后,選擇bin,并在GPIB上提供測量數(shù)據(jù)。該過程以非常高的速度進(jìn)行,允許在大約180毫秒內(nèi)完成雙頻測試。用戶可以獲得統(tǒng)計形式的通過/失敗數(shù)據(jù),并可以在LCD顯示器上查看、打印到本地打印機(jī)或通過GPIB輸出。
對帶電電容器的保護(hù)
高精度測量儀器可能對充電電容器敏感,如果連接可能導(dǎo)致昂貴的維修和不可接受的停機(jī)時間。Wayne Kerr Electronics已經(jīng)發(fā)現(xiàn)了這個問題,并開發(fā)了一種解決方案,可以保護(hù)測試設(shè)備免受帶電電容器的影響。在這種情況下,保護(hù)裝置會熔斷保險絲,保險絲可以很容易且便宜地更換,同時測試設(shè)備不會受到傷害,并繼續(xù)提供可靠的準(zhǔn)確性能。保護(hù)裝置將保護(hù)測試設(shè)備免受高達(dá)25焦耳的帶電能量。
過載保護(hù)裝置1J1100