容量測(cè)量 

       N8100可測(cè)量超級(jí)電容容量參數(shù)，含充電容量和放電容量。 測(cè)試方法為：對(duì)被測(cè)超級(jí)電容以恒定電流進(jìn)行充（放）電， 在充（放）電過程中記錄時(shí)間和電壓參數(shù)，通過計(jì)算充（放） 電過程中電壓對(duì)時(shí)間的斜率計(jì)算容量。用戶可根據(jù)IEC等各 種測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)自行選擇電壓、時(shí)間參數(shù)進(jìn)行計(jì)算。

                   

直流內(nèi)阻(DCIR)測(cè)試  

      N8100可通過重復(fù)充放電循環(huán)測(cè)試，測(cè)量超級(jí)電容在充放電 過程中表征壽命特征的各項(xiàng)物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通 過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級(jí)電容在不同應(yīng)用環(huán)境 下的預(yù)計(jì)壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標(biāo)。壽 命測(cè)試結(jié)果可用于指導(dǎo)材料、工藝、存儲(chǔ)等諸多環(huán)節(jié)的改善。 
      

壽命測(cè)試 

      N8100可通過重復(fù)充放電循環(huán)測(cè)試，測(cè)量超級(jí)電容在充放電過程中表征壽命特征的各項(xiàng)物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級(jí)電容在不同應(yīng)用環(huán)境下的預(yù)計(jì)壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標(biāo)。壽命測(cè)試結(jié)果可用于指導(dǎo)材料、工藝、存儲(chǔ)等諸多環(huán)節(jié)的改善。 

四線制測(cè)量功能 

      超級(jí)電容測(cè)試過程中需要輸出較大電流，測(cè)試線將會(huì)引入較大電壓降（線損），影響測(cè)量精度。N8100全系列型號(hào)均采用四線制接線方式，直接采集超級(jí)電容兩端電壓而避免因測(cè)試線線損帶來的電壓誤差，從而確保測(cè)量精度。 

測(cè)試夾(治)具 

      考慮到不同規(guī)模的測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)景，NGI提供兩種測(cè)試夾（治）具供用戶選擇：開爾文夾、12通道專用治具。兩種測(cè)試夾（治）具均為四線制接法。 

測(cè)試軟件 

(1) N8100測(cè)試軟件采用平臺(tái)化設(shè)計(jì)，用戶可根據(jù)工藝需求自行定制測(cè)試流程。 
(2) 類Office界面風(fēng)格，各通道獨(dú)立顯示，支持電壓電流波形繪制，可以表格形式顯示結(jié)果等諸多元素，使得這款專業(yè)軟件在具備強(qiáng)大測(cè)試功能同時(shí)，兼具美觀易用優(yōu)點(diǎn)。 
(3) 設(shè)計(jì)有功率限制電路，反應(yīng)時(shí)間極短，可有效保護(hù)負(fù)載不會(huì)因?yàn)檫^功率而損壞。 
(4) 采用全屏蔽技術(shù)，對(duì)惡劣測(cè)試環(huán)境具有廣泛適應(yīng)性，有效提高了負(fù)載抗干擾能力。