革命性的創(chuàng)新理念，重新定義環(huán)境老化試驗設(shè)備

HTXB 系列產(chǎn)品是一款多功能的功率半導(dǎo)體器件環(huán)境老化試驗設(shè)備。主要用于功率半導(dǎo)體器件的環(huán)境老化試驗，比如 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的 HTGB/HTRB 試驗。

HTXB 系列產(chǎn)品采用全新的革命性創(chuàng)新設(shè)計理念，重新定義環(huán)境老化試驗設(shè)備。允許在一臺設(shè)備上完成 HTGB/HTRB 兩種不同的試驗，極大地提高了設(shè)備綜合利用率，并減少了采購成本,解決了實驗室空間緊張的問題，降低并優(yōu)化了老化試驗的人力、電力支出綜合成本。電源電壓范圍最大為 0~6500V，可以根據(jù)客戶要求選擇不同電壓等級電源，滿足了不同產(chǎn)品同時試驗的需求。試驗溫度范圍最大可達常溫~260℃，滿足了寬禁帶半導(dǎo)體器件老化試驗對于更高溫度測試需求。最多支持 1280 個分立器件或72只半橋模塊（上下橋切換），并支持不同封裝的分立器件和模塊組合試驗，最大化地利用資源滿足研發(fā)和大批量生產(chǎn)要求。

HTXB 系列產(chǎn)品還支持用戶通過 ALITA SMART LAB 等軟件在移動端/PC 端進行遠程監(jiān)測和控制，用戶可以隨時隨地的控制或者了解試驗進程。設(shè)備發(fā)生異常狀態(tài)會自動報警，極大地緩解了值班人員工作壓力。