頂空進(jìn)樣器是氣相色譜中一種方便、快捷的樣品前處理方法。 其原理是將待測(cè)樣品置于密閉容器中，加熱使樣品基質(zhì)中的揮發(fā)性成分蒸發(fā)，氣液（或氣固）相達(dá)到平衡，直接提取爐頂氣體 色譜法。 分析測(cè)試樣品中揮發(fā)性成分的組成和含量。 采用頂空進(jìn)樣技術(shù)可以省去冗長(zhǎng)繁瑣的樣品前處理過(guò)程，避免有機(jī)溶劑對(duì)分析的干擾，減少對(duì)色譜柱和進(jìn)樣口的污染。

近日，研究團(tuán)隊(duì)以1-(苯磺?；?吡咯(PSP)為添加劑，成功制備出均質(zhì)鈣鈦礦薄膜，光電轉(zhuǎn)換效率(PCE)達(dá)到26.1%。 這一成果有望提高鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的效率和穩(wěn)定性，并為商業(yè)化發(fā)展提供明確的方向。

研究團(tuán)隊(duì)從FA1-xCsxPbI3體系出發(fā)，通過(guò)定量元素分析研究了甲脒（FA）和銫（Cs）陽(yáng)離子的縱向分布。 他們結(jié)合飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（ToF-SIMS）和X射線(xiàn)光電子能譜（XPS）進(jìn)行深入分析發(fā)現(xiàn)，無(wú)機(jī)Cs陽(yáng)離子傾向于沉積在薄膜底部，而有機(jī)FA陽(yáng)離子則傾向于沉積在薄膜底部。 富集于薄膜的上界面。 在此基礎(chǔ)上，研究團(tuán)隊(duì)對(duì)鈣鈦礦薄膜的晶相分布進(jìn)行了深入分析。 通過(guò)掠入射X射線(xiàn)衍射（GIXRD）和透射電子顯微鏡（TEM）對(duì)薄膜橫截面的分析，證明薄膜底部存在較小的面間距。 晶相，并在薄膜底部顯示出與富銫鈣鈦礦相關(guān)的特征信號(hào)。 這些實(shí)驗(yàn)充分說(shuō)明了陽(yáng)離子面外方向梯度的不均勻分布。

研究團(tuán)隊(duì)進(jìn)一步分析了這種梯度分布不均勻的原因，發(fā)現(xiàn)不同陽(yáng)離子在結(jié)晶和相變過(guò)程中速率差異過(guò)大是造成成分不均勻的主要原因。 此外，他們?cè)O(shè)計(jì)了PSP分子來(lái)補(bǔ)償不同陽(yáng)離子之間結(jié)晶和相變速率的差異，并制備了均勻的鈣鈦礦薄膜。 這種陽(yáng)離子成分分布均勻的鈣鈦礦薄膜有效抑制了底部富Cs相引起的準(zhǔn)I型能級(jí)排列，大大提高了載流子壽命和擴(kuò)散長(zhǎng)度，強(qiáng)化了載流子界面。 萃取。

該研究成果為鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程提供了新的見(jiàn)解，有望提升鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的效率和穩(wěn)定性，并為商業(yè)化發(fā)展提供明確的方向。 同時(shí)，該研究也為未來(lái)鈣鈦礦太陽(yáng)能電池制備工藝和技術(shù)的研究提供了新的思路和方法。

頂空進(jìn)樣器是一種非常有效的 GC 樣品制備方法，具有以下優(yōu)點(diǎn)：

操作簡(jiǎn)便：將待測(cè)樣品放入頂空瓶中，通過(guò)加熱抽提頂部氣體，即可將樣品中的揮發(fā)性成分分離并進(jìn)樣，無(wú)需繁瑣的樣品前處理。

靈敏度高：頂空進(jìn)樣器可直接進(jìn)樣，避免了樣品基體對(duì)分析的干擾，提高了分析的靈敏度。

減少污染：使用頂空進(jìn)樣器可以避免有機(jī)溶劑對(duì)色譜柱和進(jìn)樣口的污染，延長(zhǎng)色譜柱的使用壽命。

應(yīng)用范圍廣：頂空進(jìn)樣器可用于分析各種樣品中的揮發(fā)性成分，如食品、醫(yī)藥、環(huán)保等領(lǐng)域。

總之，頂空進(jìn)樣器是一種方便、快速、高靈敏度、減少污染的氣相色譜樣品前處理方法，廣泛應(yīng)用于各種揮發(fā)性成分的分析。