EMI測(cè)試主要測(cè)試的內(nèi)容包括：

1. 傳導(dǎo)干擾測(cè)試（Conducted EMI Test）：主要測(cè)試產(chǎn)品在其正常工作頻率范圍內(nèi)，是否存在對(duì)電源電壓的干擾性輻射，以及產(chǎn)品對(duì)來自電源的干擾的抗干擾能力。傳導(dǎo)干擾測(cè)試主要是針對(duì)產(chǎn)品本身的工作頻率和輸入電壓的頻率來確定的。
2. 輻射干擾測(cè)試（Radiated EMI Test）：主要是測(cè)試產(chǎn)品在向外發(fā)出電磁波的同時(shí)，能否有效地防止電磁波的泄漏，以避免對(duì)其他電子系統(tǒng)或本身對(duì)其他電磁波的干擾。輻射干擾測(cè)試主要是針對(duì)產(chǎn)品對(duì)外輻射和對(duì)內(nèi)部電磁波抑制能力來確定的。

如何進(jìn)行EMI測(cè)試

在進(jìn)行EMI測(cè)試時(shí)，需要按照以下步驟進(jìn)行：

1. 準(zhǔn)備測(cè)試環(huán)境：確保測(cè)試環(huán)境中的電源線和其他可能的干擾源都已被消除或被有效地隔離，以免干擾測(cè)試結(jié)果。
2. 選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試探頭和電纜：根據(jù)產(chǎn)品類型選擇合適的測(cè)試探頭和電纜，以獲得精確的測(cè)試結(jié)果。
3. 進(jìn)行傳導(dǎo)干擾測(cè)試：將測(cè)試探頭連接到產(chǎn)品的電源輸入端，同時(shí)啟動(dòng)測(cè)試設(shè)備，檢查產(chǎn)品是否產(chǎn)生了電磁干擾信號(hào)。
4. 進(jìn)行輻射干擾測(cè)試：將測(cè)試探頭放置在產(chǎn)品的周圍，并檢查產(chǎn)品是否對(duì)周圍的電子系統(tǒng)產(chǎn)生了干擾。
5. 評(píng)估測(cè)試結(jié)果：根據(jù)測(cè)試設(shè)備的指示和標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行評(píng)估，確定產(chǎn)品是否符合EMI標(biāo)準(zhǔn)。

總的來說，EMI測(cè)試是確保電子產(chǎn)品在正常工作過程中不會(huì)對(duì)其他電子系統(tǒng)或自身產(chǎn)生干擾的重要手段。通過進(jìn)行EMI測(cè)試，可以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，并提高其在市場上的競爭力。