Rohde&Schwarz增強了其R&S QAR質(zhì)量汽車天線罩測試儀，這是一種為雷達集成測試量身定制的解決方案，用于分析和評估天線罩和保險杠的雷達兼容性。通過新的R&S QAR-K50單簇測量軟件，原始設備制造商和一級供應商能夠獲得與矢量網(wǎng)絡分析儀（VNA）和準光學（QO）設置非常接近的測量結果，但采用無損和二維方式。此外，用戶受益于直觀的R&S QAR運營理念。

R&S QAR是一種毫米波成像系統(tǒng)，用于高要求的天線罩和保險杠材料測試和驗證。由于其卓越的性能、速度、質(zhì)量和直觀的操作，它是從開發(fā)和生產(chǎn)到驗證天線罩材料以及集成76ghz至81ghz雷達的完美工具。

高空間分辨率的代價是在入射角方面有更大的傳播。典型的雷達傳感器具有一定的視場，例如，全范圍（FRR）為+/-10°，短程雷達（SRR）為+/-60°。從材料表征技術出發(fā)，天線罩的反射參數(shù)主要定義為垂直入射角，因為這些參數(shù)可以用VNAs測量。R&S QAR-K50軟件選項解決了這個問題。

將R&S QAR的測量結果與標準矢量網(wǎng)絡分析儀（VNA）和準光學（QO）裝置的測量結果進行比較，可以看出一些偏差，并用R&S QAR使用的較大孔徑加以解釋。

這就是R&S QAR-K50軟件選項發(fā)揮作用的地方。它自動檢測材料樣品的最高反射，并在測試區(qū)域平均。確定反射區(qū)域的平均值，并在不到7秒內(nèi)將其作為測量結果顯示給用戶。該值與VNA的S11和S22反射測量結果非常匹配。

在R&D期間使用VNA和QO設置進行的測量現(xiàn)在可以直接與R&S QAR測量進行比較。與VNA裝置相比，該裝置仍采用微波成像，但天線孔徑較小，因此對定位誤差不太敏感，更適合生產(chǎn)環(huán)境。R&S QAR-K50軟件可自行檢測正確的測量區(qū)域，并在樣本位置稍微超出公差時向操作員提供光學反饋。R&S QAR現(xiàn)在將其用于均勻性分析的高分辨率圖像（R&S QAR-K10軟件）與一個健壯且易于使用的反射測量相結合。使用R&S QAR-K50軟件選項獲得的測量值與VNAs在QO設置中提供的結果具有直接可比性。