如何正確測量電子元器件的參數(shù),電阻、電容、電感是電子電路中不可缺少的部分。在電子電路設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上,準(zhǔn)確地測量這些零件的值是極為重要的。LCR測試儀往往用來測量這些零件的價(jià)值。用LCR測試儀測量零件時(shí),LCR測試儀與樣品的連接容易引起測量誤差。本專集介紹了“連接”法和測量誤差修正法。
LCR測試儀和樣品連接法的要點(diǎn),指出用LCR測試儀測量零件參數(shù)時(shí),關(guān)鍵問題是測量誤差。首先是LCR測試儀本身的內(nèi)部誤差,原因是多方面的,與樣品連接引起的誤差就是其中之一。由于ulyder LCR測試儀的型號不同,可能的連接方式也會有所不同。這里我們梳理了五種連接方式的特點(diǎn)。一般來說,接線方法越麻煩,測量越準(zhǔn)確。
雖然接線容易,但由于連接電纜的接觸電阻、串聯(lián)阻抗(R)等因素,會造成較大誤差,以及連接電纜和端子之間的雜散電容(CS)。如果阻抗不是中等階,測量誤差會比較大。測量電阻的主要儀器是絕緣電阻測試儀
對測試電纜和樣品進(jìn)行屏蔽,通過抑制雜散電容來減小高阻電抗部分的測量誤差。主要用于測量小電容。
設(shè)置獨(dú)立的電壓檢測電纜,消除測試電纜串聯(lián)阻抗引起的電壓降和接觸電阻的影響。它是減小低阻抗元件測量誤差的一種方法。應(yīng)考慮電纜間互感(M)的影響。如果用一個(gè)夾子與兩個(gè)相互絕緣的電極作開爾文夾子,那么用兩個(gè)夾子可以方便地連接四個(gè)端子。
是一種減小測量阻抗誤差的方法。
為了減小測量誤差,LCR測試儀有幾種校正功能。校正值會隨頻率和阻抗的范圍而變化,因此進(jìn)行全范圍校正需要大量的時(shí)間。這里,解釋零點(diǎn)校正和負(fù)載校正。
零點(diǎn)校正:當(dāng)LCR測試儀的零點(diǎn)漂移對測量值不能忽略時(shí),需要進(jìn)行零點(diǎn)校正。因?yàn)榱泓c(diǎn)漂移會隨著電纜和電極的物理配置而改變,所以開路和閉路的零點(diǎn)校正必須與連接元件時(shí)的電纜布線和電極間距相同。
負(fù)載校正:除了不同測量夾具引起的零點(diǎn)漂移之外,如果存在不可忽略的測量誤差,則可以進(jìn)行負(fù)載校正,提高測量精度。即使對于沒有負(fù)載校正功能的LCR測試儀,它也能計(jì)算出每個(gè)阻抗范圍和頻率的校正系數(shù),并自行進(jìn)行校正。
為了進(jìn)行負(fù)載校正,必須準(zhǔn)備已知準(zhǔn)確值的標(biāo)準(zhǔn)儀器或部件。零點(diǎn)校正后,用已知的準(zhǔn)確值測量標(biāo)準(zhǔn)阻抗zstd。如果測量值為ZMS,則根據(jù)以下公式計(jì)算校正系數(shù)。
發(fā)布日期: 2024-05-24
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